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失效分析

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俄歇電子能譜分析(AES

 

X射線分析 (X-ray)

 

金相切片分析 (Metallographic)

 

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激光共聚焦顯微拉曼光譜分析 (Micro Raman spectroscopy)

 

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聲學(xué)掃描分析(C-SAM

 

透視電子顯微鏡(TEM

 

X射線熒光光譜分析(XRF

 

染色分析 (Staining)



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